| Modèl | Fòma Capteur | Longè Fokal (mm) | FOV (H*V*D) | TTL (mm) | Filtè IR | Ouvèti | Mòn | Pri inite | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| PLIS+MWENS- | CH699A | 2/3" | 25 | 19.2°*14.5°*23.9° | / | / | F2.8-22 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH698A | 2/3" | 16 | 30.8°*23.3°*37.9° | / | / | F2.8-22 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH697A | 2/3" | 12 | 38.9°*29.6°*47.9° | / | / | F2.8-22 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH684A | 2/3" | 75 | 6.71º*5.04º*8.38° | / | / | F2.8-16 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH683A | 2/3" | 50 | 10.4º*8.4º*12.3° | / | / | F2.8-16 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH682A | 2/3" | 35 | 13.1º*9.9º*16.3° | / | / | F2.8-16 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH681A | 2/3" | 25 | 20.1º*15.3º*24.6° | / | / | F2.8-16 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH680A | 2/3" | 16 | 30.8º*23.1º*38.5° | / | / | F2.8-16 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH679A | 2/3" | 12 | 39.8º*30.4º*48.5° | / | / | F2.8-16 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH678A | 2/3" | 8 | 57.6º*44º*67.6° | / | / | F2.8-16 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH641B | 2/3" | 8 | 57.6º*44.9º*69.0° | / | / | F1.6-16 | C | $45Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH642B | 2/3" | 12 | 38.9º * 29.6º | / | / | F1.4-16 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH643B | 2/3" | 16 | 29.9º * 22.7º | / | / | F1.6-16 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH644B | 2/3" | 25 | 20.34º*15.78º | / | / | F1.4-16 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH645B | 2/3" | 35 | 13.14º*9.8º | / | / | F1.7-16 | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH646B | 2/3" | 50 | 10.1º * 7.5º | / | / | / | C | Mande yon Pri | |
| PLIS+MWENS- | CH677A | 2/3" | 6 | 73.3° * 57.5° | / | / | F1.4-16 | C | Mande yon Pri | |
2/3 pouslantiy vizyon machinYo se yon seri lantiy rezolisyon wo ak montur C. Yo fèt pou yon detèktè jiska 2/3 pous epi yo bay yon ang vizyon ki ba.
Sa yolantiy vizyon machinYo ka itilize yo pou enspekte semi-kondiktè yo. An konbinezon avèk lòt konpozan sistèm vizyon machin, yo itilize limyè longèdonn iltravyolèt pwofon pou enspekte wafer ak mask pou reyalize vitès ak rezolisyon ki nesesè yo.
Metroloji ak enspeksyon enpòtan pou jesyon pwosesis fabrikasyon semi-kondiktè. Gen 400 a 600 etap nan pwosesis fabrikasyon jeneral plak semi-kondiktè yo, ki fèt pandan youn a de mwa. Si nenpòt domaj rive byen bonè nan pwosesis la, tout pwosesis ki vin apre yo pa gen sans.
Deteksyon domaj epi presize kote yo ye a (kowòdinasyon pozisyon) se wòl prensipal ekipman enspeksyon yo. Lantiy vizyon machin yo detekte pati ki pa kòrèk oswa ki pa bon anvan yo entegre yo nan pi gwo asanblaj. Pi vit yo ka detekte epi retire atik ki defektye yo nan yon pwosesis pwodiksyon, mwens gaspiyaj nan pwosesis la, sa ki amelyore rannman dirèkteman. Konpare ak metòd manyèl siveyans ak enspeksyon, sistèm vizyon machin otomatik ki gen yon lantiy optik kalite siperyè yo pi rapid, yo travay san pran souf, epi yo jenere rezilta ki pi konsistan.