| Модел | Формат на сензора | Фокусно разстояние (мм) | Зрително поле (H*V*D) | TTL (мм) | Инфрачервен филтър | Апертура | Монтиране | Единична цена | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH699A | 2/3" | 25 | 19,2°*14,5°*23,9° | / | / | F2.8-22 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH698A | 2/3" | 16 | 30,8°*23,3°*37,9° | / | / | F2.8-22 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH697A | 2/3" | 12 | 38,9°*29,6°*47,9° | / | / | F2.8-22 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH684A | 2/3" | 75 | 6,71°*5,04°*8,38° | / | / | F2.8-16 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH683A | 2/3" | 50 | 10,4º*8,4º*12,3° | / | / | F2.8-16 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH682A | 2/3" | 35 | 13,1º*9,9º*16,3° | / | / | F2.8-16 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH681A | 2/3" | 25 | 20,1º*15,3º*24,6° | / | / | F2.8-16 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH680A | 2/3" | 16 | 30,8º*23,1º*38,5° | / | / | F2.8-16 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH679A | 2/3" | 12 | 39,8º*30,4º*48,5° | / | / | F2.8-16 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH678A | 2/3" | 8 | 57,6º*44º*67,6° | / | / | F2.8-16 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH641B | 2/3" | 8 | 57,6º*44,9º*69,0° | / | / | F1.6-16 | C | 45 долараЗаявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH642B | 2/3" | 12 | 38,9º * 29,6º | / | / | F1.4-16 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH643B | 2/3" | 16 | 29,9º * 22,7º | / | / | F1.6-16 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH644B | 2/3" | 25 | 20,34º * 15,78º | / | / | F1.4-16 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH645B | 2/3" | 35 | 13,14º * 9,8º | / | / | F1.7-16 | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH646B | 2/3" | 50 | 10,1º*7,5º | / | / | / | C | Заявка за оферта | |
| ОЩЕ+ПО-МАЛКО | CH677A | 2/3" | 6 | 73,3°*57,5° | / | / | F1.4-16 | C | Заявка за оферта | |
2/3″леща за машинно зрениеes са серия обективи с висока резолюция и C байонет. Те са проектирани за сензори до 2/3 инча и осигуряват зрително поле с ниско изкривяване.
Тезилеща за машинно зрениеМогат да се използват за инспекция на полупроводници. В комбинация с други компоненти на системи за машинно зрение, те използват дълбока ултравиолетова светлина с дължина на вълната за инспектиране на пластини и маски, за да постигнат необходимата висока скорост и разделителна способност.
Метрологията и инспекцията са важни за управлението на производствения процес на полупроводници. В общия производствен процес на полупроводникови пластини има от 400 до 600 стъпки, които се извършват в рамките на един до два месеца. Ако в началото на процеса се появят дефекти, цялата последваща обработка няма смисъл.
Откриването на дефекти и определянето на тяхното местоположение (координиране на позицията) са основната роля на оборудването за инспекция. Обективите за машинно зрение улавят неправилни или лоши части, преди те да бъдат вградени в по-големи сглобки. Колкото по-рано дефектните елементи могат да бъдат открити и отстранени от производствения процес, толкова по-малко отпадъци ще има в процеса, което директно ще подобри добива. В сравнение с ръчните методи за наблюдение и инспекция, автоматизираните системи за машинно зрение с висококачествени оптични лещи са по-бързи, работят неуморно и генерират по-последователни резултати.