| ਮਾਡਲ | ਸੈਂਸਰ ਫਾਰਮੈਟ | ਫੋਕਲ ਲੰਬਾਈ(ਮਿਲੀਮੀਟਰ) | FOV (H*V*D) | ਟੀਟੀਐਲ(ਮਿਲੀਮੀਟਰ) | IR ਫਿਲਟਰ | ਅਪਰਚਰ | ਮਾਊਂਟ ਕਰੋ | ਯੂਨਿਟ ਮੁੱਲ | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ699ਏ | 2/3" | 25 | 19.2°*14.5°*23.9° | / | / | ਐਫ 2.8-22 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ698ਏ | 2/3" | 16 | 30.8°*23.3°*37.9° | / | / | ਐਫ 2.8-22 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ697ਏ | 2/3" | 12 | 38.9°*29.6°*47.9° | / | / | ਐਫ 2.8-22 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ684ਏ | 2/3" | 75 | 6.71º*5.04º*8.38° | / | / | ਐਫ 2.8-16 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ683ਏ | 2/3" | 50 | 10.4º*8.4º*12.3° | / | / | ਐਫ 2.8-16 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ682ਏ | 2/3" | 35 | 13.1º*9.9º*16.3° | / | / | ਐਫ 2.8-16 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ681ਏ | 2/3" | 25 | 20.1º*15.3º*24.6° | / | / | ਐਫ 2.8-16 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ680ਏ | 2/3" | 16 | 30.8º*23.1º*38.5° | / | / | ਐਫ 2.8-16 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ679ਏ | 2/3" | 12 | 39.8º*30.4º*48.5° | / | / | ਐਫ 2.8-16 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ678ਏ | 2/3" | 8 | 57.6º*44º*67.6° | / | / | ਐਫ 2.8-16 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ641ਬੀ | 2/3" | 8 | 57.6º*44.9º*69.0° | / | / | ਐਫ 1.6-16 | C | $45ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ642ਬੀ | 2/3" | 12 | 38.9º*29.6º | / | / | ਐਫ 1.4-16 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ643ਬੀ | 2/3" | 16 | 29.9º*22.7º | / | / | ਐਫ 1.6-16 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ644ਬੀ | 2/3" | 25 | 20.34º*15.78º | / | / | ਐਫ 1.4-16 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ645ਬੀ | 2/3" | 35 | 13.14º*9.8º | / | / | ਐਫ 1.7-16 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ646ਬੀ | 2/3" | 50 | 10.1º*7.5º | / | / | / | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
| ਹੋਰ+ਘੱਟ- | ਸੀਐਚ677ਏ | 2/3" | 6 | 73.3°*57.5° | / | / | ਐਫ 1.4-16 | C | ਬੇਨਤੀ ਹਵਾਲਾ | |
2/3″ਮਸ਼ੀਨ ਵਿਜ਼ਨ ਲੈਂਜ਼es, C ਮਾਊਂਟ ਵਾਲੇ ਉੱਚ ਰੈਜ਼ੋਲਿਊਸ਼ਨ ਲੈਂਸਾਂ ਦੀ ਇੱਕ ਲੜੀ ਹੈ। ਇਹ 2/3-ਇੰਚ ਤੱਕ ਦੇ ਸੈਂਸਰ ਲਈ ਤਿਆਰ ਕੀਤੇ ਗਏ ਹਨ ਅਤੇ ਘੱਟ ਵਿਗਾੜ ਦੇ ਨਾਲ ਐਂਗਲ ਵਿਊ ਫੀਲਡ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦੇ ਹਨ।
ਇਹਮਸ਼ੀਨ ਵਿਜ਼ਨ ਲੈਂਜ਼es ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰਾਂ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰਨ ਲਈ ਕੀਤੀ ਜਾ ਸਕਦੀ ਹੈ। ਹੋਰ ਮਸ਼ੀਨ ਵਿਜ਼ਨ ਸਿਸਟਮ ਕੰਪੋਨੈਂਟਸ ਦੇ ਨਾਲ, ਉਹ ਲੋੜੀਂਦੀ ਉੱਚ ਗਤੀ ਅਤੇ ਰੈਜ਼ੋਲਿਊਸ਼ਨ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਨ ਲਈ ਵੇਫਰਾਂ ਅਤੇ ਮਾਸਕਾਂ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰਨ ਲਈ ਡੂੰਘੀ ਅਲਟਰਾਵਾਇਲਟ ਤਰੰਗ-ਲੰਬਾਈ ਰੋਸ਼ਨੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹਨ।
ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਨਿਰਮਾਣ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦੇ ਪ੍ਰਬੰਧਨ ਲਈ ਮੈਟਰੋਲੋਜੀ ਅਤੇ ਨਿਰੀਖਣ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹਨ। ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਵੇਫਰਾਂ ਦੀ ਸਮੁੱਚੀ ਨਿਰਮਾਣ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਵਿੱਚ 400 ਤੋਂ 600 ਕਦਮ ਹੁੰਦੇ ਹਨ, ਜੋ ਕਿ ਇੱਕ ਤੋਂ ਦੋ ਮਹੀਨਿਆਂ ਦੇ ਅੰਦਰ ਕੀਤੇ ਜਾਂਦੇ ਹਨ। ਜੇਕਰ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦੇ ਸ਼ੁਰੂ ਵਿੱਚ ਕੋਈ ਨੁਕਸ ਪੈਦਾ ਹੁੰਦਾ ਹੈ, ਤਾਂ ਬਾਅਦ ਦੀ ਸਾਰੀ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦਾ ਕੋਈ ਮਤਲਬ ਨਹੀਂ ਬਣਦਾ।
ਨੁਕਸਾਂ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਉਣਾ ਅਤੇ ਉਨ੍ਹਾਂ ਦੇ ਸਥਾਨਾਂ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨਾ (ਸਥਿਤੀ ਤਾਲਮੇਲ) ਨਿਰੀਖਣ ਉਪਕਰਣਾਂ ਦੀ ਮੁੱਖ ਭੂਮਿਕਾ ਹੈ। ਮਸ਼ੀਨ ਵਿਜ਼ਨ ਲੈਂਸ ਗਲਤ ਜਾਂ ਖਰਾਬ ਹਿੱਸਿਆਂ ਨੂੰ ਵੱਡੀਆਂ ਅਸੈਂਬਲੀਆਂ ਵਿੱਚ ਬਣਾਉਣ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ ਫੜ ਲੈਂਦੇ ਹਨ। ਜਿੰਨੀ ਜਲਦੀ ਉਨ੍ਹਾਂ ਨੁਕਸਦਾਰ ਚੀਜ਼ਾਂ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਉਤਪਾਦਨ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਤੋਂ ਹਟਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਵਿੱਚ ਓਨੀ ਹੀ ਘੱਟ ਰਹਿੰਦ-ਖੂੰਹਦ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਜੋ ਸਿੱਧੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਉਪਜ ਨੂੰ ਬਿਹਤਰ ਬਣਾਉਂਦੀ ਹੈ। ਨਿਗਰਾਨੀ ਅਤੇ ਨਿਰੀਖਣ ਦੇ ਦਸਤੀ ਤਰੀਕਿਆਂ ਦੇ ਮੁਕਾਬਲੇ, ਉੱਚ ਗੁਣਵੱਤਾ ਵਾਲੇ ਆਪਟੀਕਲ ਲੈਂਸ ਵਾਲੇ ਆਟੋਮੇਟਿਡ ਮਸ਼ੀਨ ਵਿਜ਼ਨ ਸਿਸਟਮ ਤੇਜ਼ ਹੁੰਦੇ ਹਨ, ਅਣਥੱਕ ਕੰਮ ਕਰਦੇ ਹਨ, ਅਤੇ ਵਧੇਰੇ ਇਕਸਾਰ ਨਤੀਜੇ ਪੈਦਾ ਕਰਦੇ ਹਨ।