| Modello | Formato del sensore | Lunghezza focale (mm) | Campo visivo (H*V*D) | TTL (mm) | Filtro IR | Apertura | Montare | Prezzo unitario | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ALTRO+MENO- | CH699A | 2/3" | 25 | 19,2°*14,5°*23,9° | / | / | F2.8-22 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH698A | 2/3" | 16 | 30,8°*23,3°*37,9° | / | / | F2.8-22 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH697A | 2/3" | 12 | 38,9°*29,6°*47,9° | / | / | F2.8-22 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH684A | 2/3" | 75 | 6,71º*5,04º*8,38° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH683A | 2/3" | 50 | 10,4º*8,4º*12,3° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH682A | 2/3" | 35 | 13,1º*9,9º*16,3° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH681A | 2/3" | 25 | 20,1º*15,3º*24,6° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH680A | 2/3" | 16 | 30,8º*23,1º*38,5° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH679A | 2/3" | 12 | 39,8º*30,4º*48,5° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH678A | 2/3" | 8 | 57,6º*44º*67,6° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH641B | 2/3" | 8 | 57,6º*44,9º*69,0° | / | / | F1.6-16 | C | $45Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH642B | 2/3" | 12 | 38,9º*29,6º | / | / | F1.4-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH643B | 2/3" | 16 | 29,9º*22,7º | / | / | F1.6-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH644B | 2/3" | 25 | 20,34º*15,78º | / | / | F1.4-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH645B | 2/3" | 35 | 13,14º*9,8º | / | / | F1.7-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH646B | 2/3" | 50 | 10,1º*7,5º | / | / | / | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH677A | 2/3" | 6 | 73,3°*57,5° | / | / | F1.4-16 | C | Richiedi un preventivo | |
2/3″lente per visione artificialeSi tratta di una serie di obiettivi ad alta risoluzione con attacco C. Sono progettati per sensori fino a 2/3 di pollice e offrono un campo visivo angolare con bassa distorsione.
Questilente per visione artificialePossono essere utilizzati per ispezionare i semiconduttori. In combinazione con altri componenti del sistema di visione artificiale, utilizzano la luce ultravioletta profonda per ispezionare wafer e maschere, ottenendo l'elevata velocità e risoluzione necessarie.
La metrologia e l'ispezione sono fondamentali per la gestione del processo di produzione dei semiconduttori. Il processo complessivo di produzione dei wafer di semiconduttori si articola in 400-600 fasi, che si svolgono nell'arco di uno o due mesi. Se si verificano difetti nelle prime fasi del processo, tutte le fasi successive risultano inefficaci.
Rilevare i difetti e specificarne la posizione (coordinamento della posizione) è il ruolo principale delle apparecchiature di ispezione. Le lenti per la visione artificiale individuano componenti errati o difettosi prima che vengano integrati in assemblaggi più grandi. Prima i pezzi difettosi vengono rilevati e rimossi da un processo di produzione, minori saranno gli sprechi, con un conseguente miglioramento diretto della resa. Rispetto ai metodi manuali di monitoraggio e ispezione, i sistemi di visione artificiale automatizzati dotati di lenti ottiche di alta qualità sono più rapidi, lavorano instancabilmente e generano risultati più coerenti.