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Objectifs à faible distorsion de 1 pouce

Brève description :

  • Objectif à faible distorsion pour capteur d'image 1″
  • 12 mégapixels
  • Objectif à monture M22
  • Longueur focale de 25 mm
  • 29,4 degrés HFoV
  • Ouverture 3.0


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Détails du produit

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Modèle Format du capteur Longueur focale (mm) Champ de vision (H*V*D) TTL (mm) Filtre IR Ouverture Monter Prix ​​unitaire
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Conçu pour l'imagerie haute précision, cet objectif au format 1 pouce offre une résolution ultra-élevée de 12 mégapixels. Grâce à sa construction avancée en verre 9G (9 éléments), il offre des performances optiques exceptionnelles avec une distorsion géométrique minimale (inférieure à -3,16 %) et une luminosité optimale sur toute l'image. C'est le choix idéal pour les applications exigeantes en automatisation industrielle, métrologie et inspection haute résolution.

Principaux avantages techniques :

Géométrie fidèle à la réalité : la conception à faible distorsion garantit une distorsion en barillet minimale, réduisant considérablement la charge de calcul pour la correction d’image en métrologie et en positionnement de précision.

Compatibilité grand format : Entièrement optimisé pour les capteurs 1 pouce avec un grand cercle d'image Φ16,0 mm, assurant la compatibilité avec les dernières caméras CMOS industrielles haut de gamme.

Uniformité d'éclairage élevée : avec un éclairage relatif supérieur à 80 %, la lentille élimine efficacement le « vignettage », maintenant une luminosité constante sur l'ensemble du champ de vision, une exigence essentielle pour les algorithmes d'inspection basés sur les bords.

Intégration améliorée du capteur : Un faible angle de rayon principal (CRA < 7,18°) minimise la diaphonie et l'ombrage au niveau des pixels du capteur, maximisant ainsi l'efficacité lumineuse et la précision des couleurs.

Durabilité industrielle : Un boîtier compact entièrement métallique conçu pour résister aux environnements extrêmes, fonctionnant de manière fiable de -25 °C à +85 °C.

Applications ciblées :

Inspection optique automatisée (AOI) : Détection des micro-défauts sur les circuits imprimés et les composants électroniques.

Mesure de précision : Mesure précise des dimensions et des tolérances en fabrication.

Robotique de pointe : Systèmes de vision pour robots de prélèvement et de tri.

Imagerie scientifique : Acquisition de données haute résolution pour les laboratoires de recherche.


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