ეს პროდუქტი წარმატებით დაემატა კალათას!

კალათის ნახვა

1 ინჩიანი დაბალი დამახინჯების ლინზები

მოკლე აღწერა:

  • დაბალი დამახინჯების ლინზა 1 დიუმიანი გამოსახულების სენსორისთვის
  • 12 მეგაპიქსელი
  • M22 სამაგრი ლინზა
  • 25 მმ ფოკუსური მანძილი
  • 29.4 გრადუსი HFoV
  • დიაფრაგმა 3.0


პროდუქტები

პროდუქტის დეტალები

პროდუქტის ტეგები

მოდელი სენსორის ფორმატი ფოკუსური მანძილი (მმ) FOV (H*V*D) TTL (მმ) ინფრაწითელი ფილტრი დიაფრაგმა მთა ერთეულის ფასი
cz cz cz cz cz cz cz cz cz

მაღალი სიზუსტის გამოსახულების მისაღებად შექმნილი ეს 1 დიუმიანი ფორმატის ლინზა უზრუნველყოფს 12 მეგაპიქსელის ულტრამაღალ გარჩევადობას. გაუმჯობესებული 9-ელემენტიანი მთლიანად მინის (9G) კონსტრუქციით, ის უზრუნველყოფს გამორჩეულ ოპტიკურ შესრულებას მინიმალური გეომეტრიული დამახინჯებით (< -3.16%) და კიდიდან კიდემდე შესანიშნავი სიკაშკაშით. ეს იდეალური არჩევანია სამრეწველო ავტომატიზაციის, მეტროლოგიისა და მაღალი გარჩევადობის შემოწმების მომთხოვნი აპლიკაციებისთვის.

ძირითადი ტექნიკური უპირატესობები:

რეალურთან მიახლოებული გეომეტრია: დაბალი დამახინჯების დიზაინი უზრუნველყოფს ცილინდრული დამახინჯების მინიმალურ დონეს, რაც მკვეთრად ამცირებს მეტროლოგიასა და ზუსტი პოზიციონირებისას გამოსახულების კორექციისთვის საჭირო გამოთვლით დატვირთვას.

დიდი ფორმატის თავსებადობა: სრულად ოპტიმიზებულია 1 დიუმიანი სენსორებისთვის დიდი Φ16.0 მმ გამოსახულების წრით, რაც უზრუნველყოფს თავსებადობას უახლეს მაღალი დონის სამრეწველო CMOS კამერებთან.

მაღალი განათების ერთგვაროვნება: 80%-ზე მეტი ფარდობითი განათებისას, ლინზა ეფექტურად გამორიცხავს „ვინიეტირებას“, ინარჩუნებს თანმიმდევრულ სიკაშკაშეს მთელ ხედვის არეალში - რაც კრიტიკული მოთხოვნაა კიდეებზე დაფუძნებული შემოწმების ალგორითმებისთვის.

გაუმჯობესებული სენსორის ინტეგრაცია: დაბალი მთავარი სხივის კუთხე (CRA < 7.18°) მინიმუმამდე ამცირებს სენსორის პიქსელებთან ჯვარედინი შეხებას და დაჩრდილვას, რაც მაქსიმალურად ზრდის სინათლის ეფექტურობას და ფერის სიზუსტეს.

სამრეწველო გამძლეობა: კომპაქტური, მთლიანად მეტალის კორპუსი, რომელიც შექმნილია ექსტრემალური გარემო პირობებისადმი გამძლეობისთვის და საიმედოდ მუშაობს -25°C-დან +85°C-მდე.

მიზნობრივი აპლიკაციები:

ავტომატური ოპტიკური შემოწმება (AOI): მიკროდეფექტების აღმოჩენა დაბეჭდილ დაფებსა და ელექტრონულ კომპონენტებზე.

ზუსტი გაზომვა: წარმოებაში ზომებისა და ტოლერანტობების ზუსტი გაზომვა.

მაღალი დონის რობოტიკა: ხედვის სისტემები აღებისა და განლაგების და დახარისხების რობოტებისთვის.

სამეცნიერო ვიზუალიზაცია: მაღალი გარჩევადობის მონაცემთა შეგროვება კვლევითი ლაბორატორიებისთვის.


  • წინა:
  • შემდეგი:

  • დაწერეთ თქვენი შეტყობინება აქ და გამოგვიგზავნეთ

    პროდუქტების კატეგორიები