Tämä tuote on lisätty ostoskoriin onnistuneesti!

Näytä ostoskori

1 tuuman vähäsäteiset linssit

Lyhyt kuvaus:

  • Vähäisen vääristymän linssi 1 tuuman kuvakennolle
  • 12 megapikseliä
  • M22-kiinnityksellä varustettu objektiivi
  • 25 mm:n polttoväli
  • 29,4 astetta HFoV
  • Aukko 3.0


Tuotteet

Tuotetiedot

Tuotetunnisteet

Malli Anturin muoto Polttoväli (mm) Kuva-ala (V*V*S) TTL (mm) IR-suodatin Aukko Mount Yksikköhinta
tšekissä tšekissä tšekissä tšekissä tšekissä tšekissä tšekissä tšekissä tšekissä

Tämä erittäin tarkkaan kuvantamiseen suunniteltu 1-tuumainen objektiivi tarjoaa erittäin korkean 12 megapikselin resoluution. Edistyksellinen 9-elementtinen täyslasinen (9G) rakenne tarjoaa poikkeuksellisen optisen suorituskyvyn minimaalisella geometrisella vääristymällä (< -3,16 %) ja erinomaisella reunasta reunaan ulottuvalla kirkkaudella. Se on ihanteellinen valinta vaativiin sovelluksiin teollisuusautomaatiossa, metrologiassa ja korkean resoluution tarkastuksissa.

Tärkeimmät tekniset edut:

Todenmukainen geometria: Vähäisen vääristymän omaava rakenne minimoi tynnyrivääristymän, mikä vähentää merkittävästi mittaustekniikan ja tarkkuuspaikannuksen kuvankorjauksen laskentatehoa.

Suurten kuvien yhteensopivuus: Täysin optimoitu 1 tuuman kennoille, joissa on suuri Φ16,0 mm:n kuvaympyrä, mikä varmistaa yhteensopivuuden uusimpien huippuluokan teollisuuskäyttöön tarkoitettujen CMOS-kameroiden kanssa.

Korkea valaistuksen tasaisuus: Kun suhteellinen valaistus on yli 80 %, linssi poistaa tehokkaasti "vinjetoinnin" ja ylläpitää tasaista kirkkautta koko näkökentässä – tämä on kriittinen vaatimus reunaperusteisille tarkastusalgoritmeille.

Parannettu kennon integrointi: Alhainen pääsäteen kulma (CRA < 7,18°) minimoi ylikuulumisen ja varjostuksen kennon pikseleissä, maksimoiden valotehokkuuden ja värien tarkkuuden.

Teollisuuden kestävyys: Kompakti, täysmetallinen kotelo, joka on suunniteltu kestämään äärimmäisiä olosuhteita ja toimii luotettavasti -25 °C:sta +85 °C:een.

Kohdennettuja sovelluksia:

Automatisoitu optinen tarkastus (AOI): Piirilevyjen ja elektronisten komponenttien mikrovirheiden havaitseminen.

Tarkkuusmittaus: Mittojen ja toleranssien tarkka mittaus valmistuksessa.

Huippuluokan robotiikka: Konenäköjärjestelmät keräily- ja sijoitusroboteille sekä lajitteluroboteille.

Tieteellinen kuvantaminen: Korkean resoluution tiedonkeruu tutkimuslaboratorioille.


  • Edellinen:
  • Seuraavaksi:

  • Kirjoita viestisi tähän ja lähetä se meille

    Tuotekategoriat